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    熱電阻校驗裝置

    KCRG-30型熱電阻校驗裝置一、實驗目的:可標定熱電阻及低溫熱電偶。 二、主要配置:配用半導體制冷,試驗管內(nèi)制冷溫度最低可達-20℃;加熱溫度最高可達+200℃。高精度PID溫度調(diào)節(jié)控溫,電阻器。配有萬能信號輸入巡檢儀作為被校熱電阻的信號采集,也可以作為銅——康銅熱電偶的校正信號采集,可配套不銹鋼

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     KCRG-30型熱電阻校驗裝置

     

    一、實驗目的:

    可標定熱電阻及低溫熱電偶。

    二、主要配置:

     配用半導體制冷,試驗管內(nèi)制冷溫度最低可達-20℃;加熱溫度最高可達+200℃。高精度PID溫度調(diào)節(jié)控溫,電阻器。配有萬能信號輸入巡檢儀作為被校熱電阻的信號采集,也可以作為銅——康銅熱電偶的校正信號采集,可配套不銹鋼實驗臺。

    三、技術參數(shù):

    1、輸入電源:單相AC220V±10% 50Hz,功率1.0KW。

    2、采用半導體制冷,試驗管內(nèi)制冷溫度最低可達到從實時溫度低3 4℃加熱溫度最可達+120℃。實驗管制冷、加熱工作電源由低壓大功率開關電源供電。

    3、溫度測量:測量系統(tǒng)配置有智能溫度控制儀表(PID調(diào)節(jié)控溫,精度 ±0.2℃),高精度PID調(diào)壓模塊電路。

    4、外形尺寸:1000×500×1200mm,外形為不銹鋼可移動支架,帶雙剎車輪。


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